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3D 數化世界由點雲開始 ｜ 產品詳細介紹
OPENTECH3D · 專業精密掃描
CTRL+C
「精準度與重複精度導向的專業掃描設備」
產品詳述與特點
OPENTECH3D CTRL+C 採用結構光技術，配備 8.5 Mpix 光學頭與 16mm 鏡頭，確保每次掃描的極高解析度。重複精度可達 0.010–0.035 mm，精度範圍 0.015–0.045 mm，解析度 0.025–0.08 mm。提供 Mono（單量測場）與 Dual（雙量測場無需重校）兩種版本，量測場域對角線範圍 275–705 mm。隨附專業三腳架、校正板與旋轉台，每台均附校正證書。
🌟 實務落地案例：精密射出成型與高精度葉片曲面逆向工程
應用範疇：模具與精密成型 / 逆向工程 ｜ 交付指標：8.5 Mpix 光學頭 | 0.010mm 重複精度
運用 CTRL+C Dual 雙視野快速切換功能，掃描具備微細導角與複合曲面的航太級導流葉片，直接輸出無噪點 STL 三角網格模型。
專案效益：曲面逆向精度達到 0.02mm 內，縮短打樣反覆修正週期達 50%。
技術規格表
| 光學頭 | 8.5 Mpix / 16mm 鏡頭 |
|---|---|
| 重複精度 | 0.010 – 0.035 mm |
| 精度 | 0.015 – 0.045 mm |
| 解析度 | 0.025 – 0.08 mm |
| 量測場域 | 200×150×120 mm – 500×380×320 mm |
| 版本 | Mono（單場）/ Dual（雙場無重校） |
| 旋轉台 | Θ250 mm / 承載 10 kg（可擴充 30–100 kg） |
| 認證 | 每台附校正證書 |